一、X-Ray测量镀层厚度:
测试标准依据:GB/T 16921-2005《金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法》
测量方法:使用X-Ray荧光光谱仪测量覆盖层的厚度,是利用X-Ray轰击覆盖层,然后接收器接受到覆盖层中元素的特征X谱线,根据接受到谱线能量的大小,再与系统中预先设定的同元素能量大小及对应的厚度值进行比较,计算出各个覆盖层的厚度。
适用范围”使用X射线荧光光谱仪对电镀层的厚度进行测量。
测试范围: 理论最小测量值0.1μm
二、(显微镜法)镀层厚度测量:
测试标准依据:GB/T 6462-2005《金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法》
测量方法:使用金相显微镜测量覆盖层的厚度,是利用显微镜将覆盖层的横截面放大至1000倍以上,直接在显示屏上显示覆盖层,然后用鼠标移动十字交叉线分别瞄准覆盖层的起始线、分界线和终结线,测量出各个覆盖层的厚度。
测试范围:理论最小测量值1μm